Piezoelektryczna spektroskopia fototermiczna w objętości i na powierzchni półprzewodników A2B6
Fototermika jest dziedziną nauki, która bada zjawiska powstające po absorpcji energii promieniowania elektromagnetycznego i przekazaniu materiałowi na sposób ciepła. Badaniami fototermicznymi można objąć materiały, które trudno zbadać konwencjonalnymi metodami – substancje bardzo dobrze rozpraszające światło, optycznie nieprzezroczyste lub charakteryzujące się bardzo małą absorpcją. Praca przedstawia rezultaty badań wybranych półprzewodników A2B6 za pomocą piezoelektrycznej spektroskopii fototermicznej. Przeprowadzono systematyczne badania wpływu przygotowania próbek na przebieg amplitudy i fazy widma fototermicznego. Powierzchnie próbek poddano obróbce mechanicznej (szlifowanie, polerowanie), chemicznej (trawienie) oraz termicznej. Przeanalizowano podstawowe zagadnienia w spektroskopii fototermicznej – rozkład pola temperatury w próbce absorbującej promieniowanie elektromagnetyczne. Przedstawiono symulacje widm amplitudy i fazy dla rożnych wartości parametrów termicznych i optycznych, typowych dla materiałów półprzewodnikowych.
- Kategorie:
- Język wydania: polski
- ISBN: 978-83-231-2972-1
- Liczba stron: 138
-
Sposób dostarczenia produktu elektronicznegoProdukty elektroniczne takie jak Ebooki czy Audiobooki są udostępniane online po opłaceniu zamówienia kartą lub przelewem na stronie Twoje konto > Biblioteka.Pliki można pobrać zazwyczaj w ciągu kilku-kilkunastu minut po uzyskaniu poprawnej autoryzacji płatności, choć w przypadku niektórych publikacji elektronicznych czas oczekiwania może być nieco dłuższy.Sprzedaż terytorialna towarów elektronicznych jest regulowana wyłącznie ograniczeniami terytorialnymi licencji konkretnych produktów.
-
Ważne informacje techniczneMinimalne wymagania sprzętowe:procesor: architektura x86 1GHz lub odpowiedniki w pozostałych architekturachPamięć operacyjna: 512MBMonitor i karta graficzna: zgodny ze standardem XGA, minimalna rozdzielczość 1024x768 16bitDysk twardy: dowolny obsługujący system operacyjny z minimalnie 100MB wolnego miejscaMysz lub inny manipulator + klawiaturaKarta sieciowa/modem: umożliwiająca dostęp do sieci Internet z prędkością 512kb/sMinimalne wymagania oprogramowania:System Operacyjny: System MS Windows 95 i wyżej, Linux z X.ORG, MacOS 9 lub wyżej, najnowsze systemy mobilne: Android, iPhone, SymbianOS, Windows MobilePrzeglądarka internetowa: Internet Explorer 7 lub wyżej, Opera 9 i wyżej, FireFox 2 i wyżej, Chrome 1.0 i wyżej, Safari 5Przeglądarka z obsługą ciasteczek i włączoną obsługą JavaScriptZalecany plugin Flash Player w wersji 10.0 lub wyżej.Informacja o formatach plików:
- PDF - format polecany do czytania na laptopach oraz komputerach stacjonarnych.
- EPUB - format pliku, który umożliwia czytanie książek elektronicznych na urządzeniach z mniejszymi ekranami (np. e-czytnik lub smartfon), dając możliwość dopasowania tekstu do wielkości urządzenia i preferencji użytkownika.
- MOBI - format zapisu firmy Mobipocket, który można pobrać na dowolne urządzenie elektroniczne (np.e-czytnik Kindle) z zainstalowanym programem (np. MobiPocket Reader) pozwalającym czytać pliki MOBI.
- Audiobooki w formacie MP3 - format pliku, przeznaczony do odsłuchu nagrań audio.
Rodzaje zabezpieczeń plików:- Watermark - (znak wodny) to zaszyfrowana informacja o użytkowniku, który zakupił produkt. Dzięki temu łatwo jest zidentyfikować użytkownika, który rozpowszechnił produkt w sposób niezgodny z prawem. Ten rodzaj zabezpieczenia jest zdecydowanie bardziej przyjazny dla użytkownika, ponieważ aby otworzyć książkę zabezpieczoną Watermarkiem nie jest potrzebne konto Adobe ID oraz autoryzacja urządzenia.
- Brak zabezpieczenia - część oferowanych w naszym sklepie plików nie posiada zabezpieczeń. Zazwyczaj tego typu pliki można pobierać ograniczoną ilość razy, określaną przez dostawcę publikacji elektronicznych. W przypadku zbyt dużej ilości pobrań plików na stronie WWW pojawia się stosowny komunikat.
Wykaz oznaczeń / 7 1. Wstęp / 9 2. Równanie dyfuzji termicznej (przewodzenia ciepła) / 14 2.1. Odbicie i załamanie fali termicznej / 18 3. Rozkład temperatury w próbce absorbującej promieniowanie elektromagnetyczne / 20 3.1. Model Rosencwaiga i Gersho / 20 3.2. Model interferencji fal termicznych / 25 3.2.1. Rozkład temperatury wzdłuż grubości próbki / 28 3.3. Model Jacksona i Amera (J-A) / 33 3.4. Model Blonskiego / 36 3.5. Rozkład temperatury w dwóch warstwach / 37 4. Generacja sygnału piezoelektrycznego – odkształcenie próbki i detektora / 44 4.1. Wzajemne położenie układu próbka–detektor–promieniowanie wzbudzające (model J–A) / 45 5. Absorpcja w półprzewodnikach / 49 5.1. Przejścia proste dozwolone / 49 5.2. Przejścia pomiędzy ogonami pasm / 51 6. Piezoelektryczne widma fototermiczne / 53 6.1. Przebieg amplitudy i fazy widm fototermicznych / 54 6.2. Zmiana parametrów symulacji / 56 6.2.1. Wpływ podłoża / 56 6.2.2. Grubość próbki / 58 6.2.3. Poszerzenie ogona Urbacha (parametr ?) / 58 6.2.4. Współczynnik kształtu / 60 6.3. Rozszerzenia modelu, symulacje dla materiałów nieidealnych / 61 6.3.1. Wpływ defektów obecnych w objętości próbki / 61 6.3.2. Wpływ defektów obecnych na powierzchni próbki / 63 7. Eksperyment / 68 7.1. Układ pomiarowy / 68 7.1.1. Komórka fototermiczna / 69 7.2. Przygotowanie próbek / 70 7.3. Selenek cynku / 71 7.4. Kryształy mieszane / 85 7.5. Zn1–x–yBexMnySe / 87 7.6. Zn1–x–yBexMgxSe / 97 7.7. CdS / 103 7.8. CdSe / 106 7.9. Inne efekty związane z powierzchnią / 110 8. Podsumowanie / 111 Aneks 1. Powierzchnia idealna a rzeczywista / 114 Aneks 2. Zdefektowana warstwa przypowierzchniowa / 118 Aneks 3. Piezoelektryczna spektroskopia fototermiczna półprzewodników – przegląd literatury / 121 Bibliografia / 130