MENU

Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów - 03 Rozdz. 5-8. Czynnik absorpcji...; Czynnik temperaturowy...; Czynnik krotności płaszczyzn krystalicznych...; Natężenie refleksów dyfrakcyjnych od materiałów krystalicznych...

(eBook)
0.00  [ 0 ocen ]
 Dodaj recenzję
Rozwiń szczegóły »
  • Druk: Katowice, 2015

  • Seria / cykl: Podręczniki i Skrypty UŚ; Nauka o Materiałach

  • Autor: Eugeniusz Łągiewka

  • Wydawca: Wydawnictwo Uniwersytetu Śląskiego

  • Formaty:
    PDF
    (Watermark)
    Watermark
    Znak wodny czyli Watermark to zaszyfrowana informacja o użytkowniku, który zakupił produkt. Dzięki temu łatwo jest zidentyfikować użytkownika, który rozpowszechnił produkt w sposób niezgodny z prawem. Ten rodzaj zabezpieczenia jest zdecydowanie najbardziej przyjazny dla użytkownika, ponieważ aby otworzyć książkę zabezpieczoną Watermarkiem nie jest potrzebne konto Adobe ID oraz autoryzacja urządzenia.

Produkt niedostępny
Dodaj do schowka

Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów - 03 Rozdz. 5-8. Czynnik absorpcji...; Czynnik temperaturowy...; Czynnik krotności płaszczyzn krystalicznych...; Natężenie refleksów dyfrakcyjnych od materiałów krystalicznych...

Podręcznik zawiera matematyczny opis związków między uporządkowaniem struktury atomowej materiałów a ich obrazami dyfrakcyjnymi uzyskanymi przy pomocy wiązki promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów. W podręczniku zamiarem autora było pokazanie jak w oparciu o podstawowe prawa fizyczne zjawisk rozpraszania i dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów na różnych układach atomów budujących materiał, można dokonać opisu powstawania obrazu dyfrakcyjnego i wyjaśnić związki między jego charakterem a wybranymi parametrami struktury materiału. Zagadnienie to jest obecnie szczególnie istotne, gdy większość obliczeń parametrów struktury materiału prowadzona jest przy pomocy komercyjnych programów komputerowych, które niemal w sposób automatyczny pozwalają na otrzymanie ostatecznych wyników. Nie uwzględnienie w ich interpretacji możliwości i ograniczeń metodycznych oraz aparaturowych, prowadzi często do błędnych danych o strukturze materiału. Jest to szczególnie typowe dla prac młodszych, mniej doświadczonych pracowników laboratoriów, studentów i doktorantów.

Podręcznik składa się w zasadzie z trzech części poświęconych kolejno rozpraszaniu i dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów na pojedynczym atomie, układzie atomów o różnej konfiguracji w materiale amorficznym, monokrystalicznym i polikrystalicznym i różnym stopniu uporządkowania. Każda część zawiera geometryczny i analityczny opis obrazu rozpraszania i dyfrakcji w zależności od wybranych parametrów struktury materiału i niektórych jego defektów. Omówiono kinematyczną i dynamiczną teorie rozpraszania, zakresy ich stosowalności oraz zjawiska ekstynkcyjne. Przy omawianiu rozpraszania i dyfrakcji wiązki elektronów uwzględniono efekty zachodzące przy różnej ich energii /elektrony wysoko- i niskoenergetyczne, sprężyście i niesprężyście rozproszone/ oraz ich efekty fizyczne przy przechodzeniu przez materiał lub odbiciu z uwzględnieniem geometrii wiązki. W podręczniku podano podstawy budowy i zasady działania oraz powstawania obrazów w klasycznej mikroskopii elektronowej i wysokorozdzielczej, w wiązce równoległej i zbieżnej, w wiązce transmisyjnej i odbiciowej, a także wykorzystaniu elektronów wstecznie rozproszonych w badaniach powierzchni /LEED, EBSD/. Trzecia część podręcznika poświęcona rozpraszaniu i dyfrakcji neutronów podaje najistotniejsze osobliwości tego zjawiska dla neutronów w porównaniu do promieni rentgenowskich i elektronów. Stanowi ona uzupełnienie dyfrakcyjnych metod badań struktury materiałów. Autor ma nadzieję, że powyższy podręcznik będzie przydatny dla studentów i doktorantów kierunków – inżynierii materiałowej, fizyki ciała stałego, metalurgii, chemii i kierunków pokrewnych, gdzie problemy badań materiałowych są przedmiotem na różnych stopniach kształcenia. Powyższy podręcznik może też być przydatny dla pracowników instytutów badawczych i kadry inżynierskiej ośrodków przemysłowych, którzy w swojej pracy zawodowej spotykają się z problemami podnoszenia jakości wytwarzanych materiałów i produktów.

  • Sposób dostarczenia produktu elektronicznego
    Produkty elektroniczne takie jak Ebooki czy Audiobooki są udostępniane online po opłaceniu zamówienia kartą lub przelewem na stronie Twoje konto > Biblioteka.
    Pliki można pobrać zazwyczaj w ciągu kilku-kilkunastu minut po uzyskaniu poprawnej autoryzacji płatności, choć w przypadku niektórych publikacji elektronicznych czas oczekiwania może być nieco dłuższy.
    Sprzedaż terytorialna towarów elektronicznych jest regulowana wyłącznie ograniczeniami terytorialnymi licencji konkretnych produktów.
  • Ważne informacje techniczne
    Minimalne wymagania sprzętowe:
    procesor: architektura x86 1GHz lub odpowiedniki w pozostałych architekturach
    Pamięć operacyjna: 512MB
    Monitor i karta graficzna: zgodny ze standardem XGA, minimalna rozdzielczość 1024x768 16bit
    Dysk twardy: dowolny obsługujący system operacyjny z minimalnie 100MB wolnego miejsca
    Mysz lub inny manipulator + klawiatura
    Karta sieciowa/modem: umożliwiająca dostęp do sieci Internet z prędkością 512kb/s
    Minimalne wymagania oprogramowania:
    System Operacyjny: System MS Windows 95 i wyżej, Linux z X.ORG, MacOS 9 lub wyżej, najnowsze systemy mobilne: Android, iPhone, SymbianOS, Windows Mobile
    Przeglądarka internetowa: Internet Explorer 7 lub wyżej, Opera 9 i wyżej, FireFox 2 i wyżej, Chrome 1.0 i wyżej, Safari 5
    Przeglądarka z obsługą ciasteczek i włączoną obsługą JavaScript
    Zalecany plugin Flash Player w wersji 10.0 lub wyżej.
    Informacja o formatach plików:
    • PDF - format polecany do czytania na laptopach oraz komputerach stacjonarnych.
    • EPUB - format pliku, który umożliwia czytanie książek elektronicznych na urządzeniach z mniejszymi ekranami (np. e-czytnik lub smartfon), dając możliwość dopasowania tekstu do wielkości urządzenia i preferencji użytkownika.
    • MOBI - format zapisu firmy Mobipocket, który można pobrać na dowolne urządzenie elektroniczne (np.e-czytnik Kindle) z zainstalowanym programem (np. MobiPocket Reader) pozwalającym czytać pliki MOBI.
    • Audiobooki w formacie MP3 - format pliku, przeznaczony do odsłuchu nagrań audio.
    Rodzaje zabezpieczeń plików:
    • Watermark - (znak wodny) to zaszyfrowana informacja o użytkowniku, który zakupił produkt. Dzięki temu łatwo jest zidentyfikować użytkownika, który rozpowszechnił produkt w sposób niezgodny z prawem. Ten rodzaj zabezpieczenia jest zdecydowanie bardziej przyjazny dla użytkownika, ponieważ aby otworzyć książkę zabezpieczoną Watermarkiem nie jest potrzebne konto Adobe ID oraz autoryzacja urządzenia.
    • Brak zabezpieczenia - część oferowanych w naszym sklepie plików nie posiada zabezpieczeń. Zazwyczaj tego typu pliki można pobierać ograniczoną ilość razy, określaną przez dostawcę publikacji elektronicznych. W przypadku zbyt dużej ilości pobrań plików na stronie WWW pojawia się stosowny komunikat.
Spis treści

Wykaz ważniejszych oznaczeń / 9

1. Wstęp / 13

2. Rozpraszanie promieni rentgenowskich na pojedynczym elektronie / 15

3. Rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego na atomach / 21

4. Wpływ długości fali (częstotliwości) na wartość atomowego czynnika rozpraszania — anomalna dyspersja / 29

5. Rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego na zbiorach atomów budujących materiał / 34
5.1. Natężenie promieniowania rozproszonego od materiału składającego się z małych cząstek / 35
5.2. Natężenie promieniowania rozproszonego od materiału o idealnie chaotycznej konfiguracji atomów — idealny materiał amorficzny / 36
5.3. Rozpraszanie promieni rentgenowskich przez materiały składające się ze skupisk atomów o objętościach υ / 37
5.3.1. Analiza członu 2. wzoru (5.8) / 39
5.3.2. Analiza członu 3. równania (5.8) / 41
5.4. Rozpraszanie promieni rentgenowskich na materiałach o periodycznej budowie atomowej — materiały krystaliczne / 46
5.4.1. Geometria dyfrakcji promieni rentgenowskich na sieci krystalicznej / 47
5.4.1.1. Równania Lauego / 47
5.4.1.2. Równanie Braggów / 48
5.4.1.3. Równanie Ewalda / 50
5.4.2. Natężenie refleksu dyfrakcyjnego od materiałów krystalicznych / 53
5.4.2.1. Natężenie rozpraszania na komórce elementarnej sieci krystalicznej — czynnik struktury F / 54
5.4.2.2. Rozpraszanie i dyfrakcja na sieci krystalicznej / 55
5.4.3. Integralne (całkowe) pojęcie natężenia refleksu dyfrakcyjnego / 62

6. Czynnik absorpcji w natężeniu refleksu dyfrakcyjnego / 65

7. Czynnik temperaturowy w natężeniu wiązki dyfrakcyjnej / 69

8. Czynnik krotności płaszczyzn krystalicznych w natężeniu refleksu dyfrakcyjnego / 72

9. Natężenie refleksów dyfrakcyjnych od materiałów krystalicznych wykazujących uprzywilejowaną orientację krystalograficzną (teksturę) / 75

10. Natężenie rentgenowskiego promieniowania dyfrakcyjnego od materiałów krystalicznych typu roztworów stałych / 77
10.1. Natężenie promieniowania rozproszonego w przypadku tworzenia się uporządkowania bliskiego zasięgu / 79
10.2. Natężenie promieniowania w przypadku rozpadu przesyconego nieuporządkowanego roztworu stałego / 84
10.3. Obraz dyfrakcyjny w przypadku występowania uporządkowania dalekiego zasięgu / 85

11. Rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego na „supersieciach” / 92

12. Obrazy dyfrakcyjne od materiałów wykazujących błędy ułożenia / 96

13. Podstawy dynamicznej teorii rozpraszania promieni rentgenowskich / 100
13.1. Rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego na jednej płaszczyźnie sieci krystalicznej / 101
13.2. Natężenie refleksu dyfrakcyjnego w dynamicznej teorii Darwina / 105
13.3. Zjawisko ekstynkcji, poprawki ekstynkcyjne / 110

14. Rozpraszanie wiązki elektronowej na atomie / 114

15. Geometria i natężenie wiązek dyfrakcyjnych elektronów rozproszonych na sieci krystalicznej / 122

16. Natężenie obrazów dyfrakcyjnych elektronów od materiałów krystalicznych — przybliżenie kinematyczne / 133
16.1. Rozpraszanie wiązki elektronowej na komórce elementarnej sieci krystalicznej / 133
16.2. Rozpraszanie wiązki elektronowej na układzie komórek tworzących kryształ (krystalit) — przybliżenie kinematyczne / 134

17. Wpływ niedoskonałości struktury krystalicznej na natężenie refleksów dyfrakcyjnych / 140
17.1. Kontrast na dyslokacjach / 141
17.2. Kontrast na błędach ułożenia i bliźniakach / 142
17.3. Kontrast Moire’a / 145
17.4. Kontrast dyfrakcyjny na wydzieleniach / 147
17.5. Kontrast dyfrakcyjny na nierównościach grubości próbki / 149

18. Dynamiczna teoria dyfrakcji elektronów / 151

19. Podstawy wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej / 158

20. Dyfrakcja powolnych elektronów (LEED) / 166

21. Dyfrakcja elektronów rozproszonych niesprężyście (niekoherentnie) / 174

22. Dyfrakcja neutronów / 182

Literatura / 191
Aneksy / 195
NAZWA I FORMAT
OPIS
ROZMIAR

Przeczytaj fragment

Inni Klienci oglądali również

41,40 zł
69,00 zł

Psychologiczne podstawy podmiotowości

Gdzie znajdują się źródła ludzkiej podmiotowości? Co sprzyja osiąganiu samoświadomości i samokontroli? Autorka przybliża zagadnienia związane ze zdolnością człowieka do wglądu w siebie oraz do uwzględniania w ...
23,40 zł
30,00 zł

Człowiek i paideia. Realistyczne podstawy filozofii wychowania

W książce nie tylko analizuje się polską pedagogikę po 1989 roku, ale podejmuje się próbę sformułowania realistycznej filozofii wychowania. Zdaniem autora u podstaw wychowania leży wcześniej przyjęta koncepcja człowieka i jego działania, a zatem...
34,40 zł
40,00 zł

Podstawy konstrukcji maszyn. Zbiór zadań. Elementy podatne. Sprzęgła i hamulce. Przekładnie zębate

Celem autora prezentowanego zbioru zadań jest wskazanie studentom możliwości zastosowania w praktyce zasad i procedur prowadzenia podstawowych obliczeń inżynierskich wspomagających projektowanie urządzeń mechanicznych oraz typowych modeli obliczeniowyc...
21,89 zł
24,32 zł

Czynniki determinujące efektywność przedsiębiorstw produkcyjnych

Monografia jest kompendium wiedzy dotyczącej produkcji i logistyki, planowania organizacyjnego, metod projektowania procesów technologicznych oraz organizacji systemów produkcyjnych. W rozdziale pierwszym przedstawiono istotę przedsiębior...
28,80 zł
32,00 zł

Podstawy rysunku odręcznego z elementami geometrii wykreślnej

Autorskie omówienie warsztatu pracy rysownika przydatne dla adeptów kierunków techniczno-budowlanych zainteresowanych rysunkiem architektoniczno-budowlanym, zwłaszcza dla studentów architektury i urbanistyki. Doskonałe uzupe...
44,10 zł
63,00 zł

Moja mapa. Tworzenie map w technologiach geoinformacyjnych. Przewodnik uzupełniający do laboratoriów z podstaw kartografii + Zawartość płyty do pobrania

Przewodnik „Moja mapa. Tworzenie map w technologiach geoinformacyjnych” jest pomocą dydaktyczną do realizacji zagadnień kartograficznych przy wykorzystaniu otwartego oprogramowania geoinformacyjnego, jak QGIS, SAGA GIS czy GRASS GIS. Jego c...
22,05 zł
31,50 zł

Podstawy chemoinformatyki leków. Wydanie drugie rozszerzone

Na polskim rynku księgarskim dostępnych jest szereg podręczników poświęconych chemii leków oraz projektowaniu leków, brakuje natomiast podręcznika poświęconego chemoinformatyce. W zamyśle autorów niniejszy skrypt ma za zadan...
62,40 zł
104,00 zł

Biomedyczne podstawy rozwoju i edukacji

Biomedyczne podstawy rozwoju i wychowania to podręcznik stanowiący kompendium wiedzy na temat:• Rozwoju biologicznego człowieka. Czytelnik znajdzie tu charakterystykę rozwoju fizycznego, motorycznego oraz psychicznego i psychoseksualne...
111,75 zł
149,00 zł

Podstawy kosmetologii leczniczej

Publikacja Podstawy kosmetologii leczniczej została przygotowana przez zespół specjalistów pod kierunkiem dr hab. Dominiki Wcisło-Dziadeckiej, prof. SUM. Podręcznik w sposób szczegółowy opisuje wiedzę z zakresu kosmetologii ...

Recenzje

Nikt nie dodał jeszcze recenzji. Bądź pierwszy!