Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów - 06 Rozdz. 13-14. Rozpraszanie wiązki elektronowej na atomie; Geometria i natężenie wiązek dyfrakcyjnych elektronów rozproszonych na sieci krystalicznej
Podręcznik zawiera matematyczny opis związków między
uporządkowaniem struktury atomowej materiałów a ich obrazami dyfrakcyjnymi uzyskanymi przy pomocy wiązki promieni rentgenowskich,
elektronów i
neutronów. W podręczniku zamiarem autora było pokazanie jak w oparciu o podstawowe prawa fizyczne zjawisk rozpraszania i dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów na różnych układach atomów budujących materiał, można dokonać opisu powstawania obrazu dyfrakcyjnego i wyjaśnić związki między jego charakterem a wybranymi parametrami struktury materiału. Zagadnienie to jest obecnie szczególnie istotne, gdy większość obliczeń parametrów struktury materiału prowadzona jest przy pomocy komercyjnych programów komputerowych, które niemal w sposób automatyczny pozwalają na otrzymanie ostatecznych wyników. Nie uwzględnienie w ich interpretacji możliwości i ograniczeń metodycznych oraz aparaturowych, prowadzi często do błędnych danych o strukturze materiału. Jest to szczególnie typowe dla prac młodszych, mniej doświadczonych pracowników laboratoriów, studentów i doktorantów.
Podręcznik składa się w zasadzie z trzech części poświęconych kolejno rozpraszaniu i dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów na pojedynczym atomie, układzie atomów o różnej konfiguracji w materiale amorficznym, monokrystalicznym i polikrystalicznym i różnym stopniu uporządkowania. Każda część zawiera geometryczny i analityczny opis obrazu rozpraszania i dyfrakcji w zależności od wybranych parametrów struktury materiału i niektórych jego defektów. Omówiono kinematyczną i dynamiczną teorie rozpraszania, zakresy ich stosowalności oraz zjawiska ekstynkcyjne. Przy omawianiu rozpraszania i dyfrakcji wiązki elektronów uwzględniono efekty zachodzące przy różnej ich energii /elektrony wysoko- i niskoenergetyczne, sprężyście i niesprężyście rozproszone/ oraz ich efekty fizyczne przy przechodzeniu przez materiał lub odbiciu z uwzględnieniem geometrii wiązki. W podręczniku podano podstawy budowy i zasady działania oraz powstawania obrazów w klasycznej mikroskopii elektronowej i wysokorozdzielczej, w wiązce równoległej i zbieżnej, w wiązce transmisyjnej i odbiciowej, a także wykorzystaniu elektronów wstecznie rozproszonych w badaniach powierzchni /LEED, EBSD/. Trzecia część podręcznika poświęcona rozpraszaniu i dyfrakcji neutronów podaje najistotniejsze osobliwości tego zjawiska dla neutronów w porównaniu do promieni rentgenowskich i elektronów. Stanowi ona uzupełnienie dyfrakcyjnych metod badań struktury materiałów. Autor ma nadzieję, że powyższy podręcznik będzie przydatny dla studentów i doktorantów kierunków – inżynierii materiałowej, fizyki ciała stałego, metalurgii, chemii i kierunków pokrewnych, gdzie problemy badań materiałowych są przedmiotem na różnych stopniach kształcenia. Powyższy podręcznik może też być przydatny dla pracowników instytutów badawczych i kadry inżynierskiej ośrodków przemysłowych, którzy w swojej pracy zawodowej spotykają się z problemami podnoszenia jakości wytwarzanych materiałów i produktów.
- Kategorie:
- Język wydania: polski
- ISBN: 978-83-8012-149-2
-
Sposób dostarczenia produktu elektronicznegoProdukty elektroniczne takie jak Ebooki czy Audiobooki są udostępniane online po opłaceniu zamówienia kartą lub przelewem na stronie Twoje konto > Biblioteka.Pliki można pobrać zazwyczaj w ciągu kilku-kilkunastu minut po uzyskaniu poprawnej autoryzacji płatności, choć w przypadku niektórych publikacji elektronicznych czas oczekiwania może być nieco dłuższy.Sprzedaż terytorialna towarów elektronicznych jest regulowana wyłącznie ograniczeniami terytorialnymi licencji konkretnych produktów.
-
Ważne informacje techniczneMinimalne wymagania sprzętowe:procesor: architektura x86 1GHz lub odpowiedniki w pozostałych architekturachPamięć operacyjna: 512MBMonitor i karta graficzna: zgodny ze standardem XGA, minimalna rozdzielczość 1024x768 16bitDysk twardy: dowolny obsługujący system operacyjny z minimalnie 100MB wolnego miejscaMysz lub inny manipulator + klawiaturaKarta sieciowa/modem: umożliwiająca dostęp do sieci Internet z prędkością 512kb/sMinimalne wymagania oprogramowania:System Operacyjny: System MS Windows 95 i wyżej, Linux z X.ORG, MacOS 9 lub wyżej, najnowsze systemy mobilne: Android, iPhone, SymbianOS, Windows MobilePrzeglądarka internetowa: Internet Explorer 7 lub wyżej, Opera 9 i wyżej, FireFox 2 i wyżej, Chrome 1.0 i wyżej, Safari 5Przeglądarka z obsługą ciasteczek i włączoną obsługą JavaScriptZalecany plugin Flash Player w wersji 10.0 lub wyżej.Informacja o formatach plików:
- PDF - format polecany do czytania na laptopach oraz komputerach stacjonarnych.
- EPUB - format pliku, który umożliwia czytanie książek elektronicznych na urządzeniach z mniejszymi ekranami (np. e-czytnik lub smartfon), dając możliwość dopasowania tekstu do wielkości urządzenia i preferencji użytkownika.
- MOBI - format zapisu firmy Mobipocket, który można pobrać na dowolne urządzenie elektroniczne (np.e-czytnik Kindle) z zainstalowanym programem (np. MobiPocket Reader) pozwalającym czytać pliki MOBI.
- Audiobooki w formacie MP3 - format pliku, przeznaczony do odsłuchu nagrań audio.
Rodzaje zabezpieczeń plików:- Watermark - (znak wodny) to zaszyfrowana informacja o użytkowniku, który zakupił produkt. Dzięki temu łatwo jest zidentyfikować użytkownika, który rozpowszechnił produkt w sposób niezgodny z prawem. Ten rodzaj zabezpieczenia jest zdecydowanie bardziej przyjazny dla użytkownika, ponieważ aby otworzyć książkę zabezpieczoną Watermarkiem nie jest potrzebne konto Adobe ID oraz autoryzacja urządzenia.
- Brak zabezpieczenia - część oferowanych w naszym sklepie plików nie posiada zabezpieczeń. Zazwyczaj tego typu pliki można pobierać ograniczoną ilość razy, określaną przez dostawcę publikacji elektronicznych. W przypadku zbyt dużej ilości pobrań plików na stronie WWW pojawia się stosowny komunikat.
Spis treści Wykaz ważniejszych oznaczeń / 9 1. Wstęp / 13 2. Rozpraszanie promieni rentgenowskich na pojedynczym elektronie / 15 3. Rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego na atomach / 21 4. Wpływ długości fali (częstotliwości) na wartość atomowego czynnika rozpraszania — anomalna dyspersja / 29 5. Rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego na zbiorach atomów budujących materiał / 34 5.1. Natężenie promieniowania rozproszonego od materiału składającego się z małych cząstek / 35 5.2. Natężenie promieniowania rozproszonego od materiału o idealnie chaotycznej konfiguracji atomów — idealny materiał amorficzny / 36 5.3. Rozpraszanie promieni rentgenowskich przez materiały składające się ze skupisk atomów o objętościach υ / 37 5.3.1. Analiza członu 2. wzoru (5.8) / 39 5.3.2. Analiza członu 3. równania (5.8) / 41 5.4. Rozpraszanie promieni rentgenowskich na materiałach o periodycznej budowie atomowej — materiały krystaliczne / 46 5.4.1. Geometria dyfrakcji promieni rentgenowskich na sieci krystalicznej / 47 5.4.1.1. Równania Lauego / 47 5.4.1.2. Równanie Braggów / 48 5.4.1.3. Równanie Ewalda / 50 5.4.2. Natężenie refleksu dyfrakcyjnego od materiałów krystalicznych / 53 5.4.2.1. Natężenie rozpraszania na komórce elementarnej sieci krystalicznej — czynnik struktury F / 54 5.4.2.2. Rozpraszanie i dyfrakcja na sieci krystalicznej / 55 5.4.3. Integralne (całkowe) pojęcie natężenia refleksu dyfrakcyjnego / 62 6. Czynnik absorpcji w natężeniu refleksu dyfrakcyjnego / 65 7. Czynnik temperaturowy w natężeniu wiązki dyfrakcyjnej / 69 8. Czynnik krotności płaszczyzn krystalicznych w natężeniu refleksu dyfrakcyjnego / 72 9. Natężenie refleksów dyfrakcyjnych od materiałów krystalicznych wykazujących uprzywilejowaną orientację krystalograficzną (teksturę) / 75 10. Natężenie rentgenowskiego promieniowania dyfrakcyjnego od materiałów krystalicznych typu roztworów stałych / 77 10.1. Natężenie promieniowania rozproszonego w przypadku tworzenia się uporządkowania bliskiego zasięgu / 79 10.2. Natężenie promieniowania w przypadku rozpadu przesyconego nieuporządkowanego roztworu stałego / 84 10.3. Obraz dyfrakcyjny w przypadku występowania uporządkowania dalekiego zasięgu / 85 11. Rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego na „supersieciach” / 92 12. Obrazy dyfrakcyjne od materiałów wykazujących błędy ułożenia / 96 13. Podstawy dynamicznej teorii rozpraszania promieni rentgenowskich / 100 13.1. Rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego na jednej płaszczyźnie sieci krystalicznej / 101 13.2. Natężenie refleksu dyfrakcyjnego w dynamicznej teorii Darwina / 105 13.3. Zjawisko ekstynkcji, poprawki ekstynkcyjne / 110 14. Rozpraszanie wiązki elektronowej na atomie / 114 15. Geometria i natężenie wiązek dyfrakcyjnych elektronów rozproszonych na sieci krystalicznej / 122 16. Natężenie obrazów dyfrakcyjnych elektronów od materiałów krystalicznych — przybliżenie kinematyczne / 133 16.1. Rozpraszanie wiązki elektronowej na komórce elementarnej sieci krystalicznej / 133 16.2. Rozpraszanie wiązki elektronowej na układzie komórek tworzących kryształ (krystalit) — przybliżenie kinematyczne / 134 17. Wpływ niedoskonałości struktury krystalicznej na natężenie refleksów dyfrakcyjnych / 140 17.1. Kontrast na dyslokacjach / 141 17.2. Kontrast na błędach ułożenia i bliźniakach / 142 17.3. Kontrast Moire’a / 145 17.4. Kontrast dyfrakcyjny na wydzieleniach / 147 17.5. Kontrast dyfrakcyjny na nierównościach grubości próbki / 149 18. Dynamiczna teoria dyfrakcji elektronów / 151 19. Podstawy wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej / 158 20. Dyfrakcja powolnych elektronów (LEED) / 166 21. Dyfrakcja elektronów rozproszonych niesprężyście (niekoherentnie) / 174 22. Dyfrakcja neutronów / 182 Literatura / 191 Aneksy / 195