Uwaga: Nasze strony wykorzystują pliki cookies.

Używamy informacji zapisanych za pomocą cookies i podobnych technologii m.in. w celu dostosowania serwisu do indywidualnych potrzeb użytkowników oraz w celach statystycznych i reklamowych. Mogą też stosować je współpracujące z nami firmy badawcze. W programie służącym do obsługi Internetu można zmienić ustawienia dotyczące cookies. Korzystanie z naszych serwisów internetowych bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zapisane w pamięci urządzenia. Więcej informacji można znaleźć w naszej Polityce Prywatności.

PROMOCJA BESTSELLER

Pomiary(Miękka)

Czujniki i metody pomiarowe wybranych wielkości fizycznych i składu chemicznego

0.00 [ 0 ocen ]

Sprawdź recenzje

Rozwiń szczegóły »

Wydanie: Warszawa, 2, 2017
Copyright: 2012
Redakcja naukowa: Janusz Piotrowski
Wydawca: Wydawnictwo Naukowe PWN, WNT
Typ oprawy: miękka

Cena detaliczna: 69,00 zł

53,13

zł

Cena zawiera podatek VAT.

Oszczędzasz 15,87 zł

Stan magazynowy:Mała ilość

Dodaj do schowka

Wysyłka: 24h

Dostawa i płatność

Pomiary

Pomiary są obszerną dziedziną wiedzy wykorzystywaną w codziennej pracy niemal w każdym zawodzie inżynierskim. Od ich dokładności i wiarygodności zależy jakość materiałów oraz produkowanych z nich wyrobów, a także organizacja procesów produkcyjnych. Rozwój elektroniki, informatyki i telekomunikacji umożliwia ciągłe doskonalenie technik pomiarowych oraz aparatury, która jest już prawie niezawodna, łatwa w obsłudze, a co najważniejsze bardzo dokładna również w ekstremalnych warunkach. Równie ważna jak możliwości techniczne jest wiedza na temat technik pomiarowych różnych wielkości fizycznych.

Lektura tej książki przybliży Czytelnikowi zagadnienia związane z:

- metodami pomiarów: temperatury, ciśnienia, poziomu przepływu, drgań, wstrząsów, hałasu, składu chemicznego oraz wilgotności,
- podstawowymi błędami pomiarów i sposobami ich wyznaczania,
- niedokładnościami wyników pomiarów i sposobami ich oceniania,
- układami przetwarzania i przesyłania sygnałów pomiarowych,
- współczesną aparaturą pomiarową i jej właściwościami,
- czynnościami metrologicznymi,
- obowiązującymi przepisami prawnymi.

Kategorie:
1. Książki »
2. Publikacje akademickie
Redakcja: Janusz Piotrowski
Język wydania: polski
ISBN: 9788301192884
EAN: 9788301192884
Liczba stron: 606
Wymiary: 16.0x23.0cm
Waga: 0.99kg

Sposób dostarczenia produktu fizycznego
Sposoby i terminy dostawy:
- Paczka w RUCHu - dostawa 2 dni robocze
- Odbiór paczki w urzędzie Poczty Polskiej - dostawa 2 dni robocze
- Dostawa Pocztą Polską - dostawa 2 dni robocze
- Odbiór paczki w Paczkomacie InPost - dostawa 2 dni robocze
- Dostawa kurierem - dostawa 1 dzień roboczy
- Odbiór własny w księgarni PWN - dostawa 3 dni robocze
Ważne informacje o wysyłce:
- Nie wysyłamy paczek poza granice Polski.
- Dostawa do części Paczkomatów InPost oraz opcja odbioru osobistego w księgarniach PWN jest realizowana po uprzednim opłaceniu zamówienia kartą lub przelewem.
- Całkowity czas oczekiwania na paczkę = termin wysyłki + dostawa wybranym przewoźnikiem.
- Podane terminy dotyczą wyłącznie dni roboczych (od poniedziałku do piątku, z wyłączeniem dni wolnych od pracy).

Janusz Piotrowski

Doktor habilitowany, inżynier, emerytowany profesor Politechniki Śląskiej.

Ukończył Wydział Elektryczny Politechniki Śląskiej w Gliwicach. Po roku pracy w Energoprojekcie podjął w 1957 roku pracę na Wydziale Mechaniczno-Energetycznym Politechniki Śląskiej, gdzie obronił doktorat w 1964 roku. W 1970 roku rozpoczął wykład Podstawy metrologii i w latach 70. wydał podręcznik pod tym samym tytułem. W 1986 roku ukazała się książka Teoria pomiarów wydana przez PWN, która została przetłumaczona (jako wydanie II, poprawione) na języki: rosyjski (MIR, 1989) i angielski (Elsevier + PWN, 1991).

Prace naukowe z dziedziny metrologii, systemów pomiarowych, konstrukcji przyrządów pomiarowych i automatyzacji pomiarów oraz działalność dydaktyczna (wypromowanie 13 doktorów) uwieńczone zostały tytułem naukowym profesora w 1988 roku i profesora zwyczajnego w Politechnice Śląskiej w 1995 roku.

W latach 1974–1993 członek Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN. Autor (i współautor) następujących książek: Wzorcowanie aparatury pomiarowej. Podstawy teoretyczne i trasabilność według norm ISO 9000 i zaleceń międzynarodowych (z K. Kostyrko, Wydawnictwo Nukowe PWN, 2000), Podstawy miernictwa (WNT, 2002), drugi podręcznik Pomiary - Czujniki i metody pomiarowe wybranych wielkości fizycznych i składu chemicznego (razem z zespołem z Politechniki Śląskiej, WNT, 2009).