Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Przedstawiamy wyjątkową publikację – Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych czyli kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.
Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.
Misją autora Metrologii geometrycznej powierzchni technologicznych było przedstawienie najbardziej aktualnych treści dotyczących metrologii – dotyczy to w szczególności najnowszych dokumentów normalizacyjnych, najnowocześniejszych narzędzi dostępnych metrologom, a także wykorzystaniu udoskonalonej technologii czy oprogramowaniu.
W publikacji tej Czytelnik będzie mógł przeczytać m.in. o:
- skomputeryzowanych systemach pomiarowych,
- tolerancjach geometrycznych,
- zarysach walcowości, prostoliniowości, płaskości, kulistości
- ocenie falistości oraz mikro- i nanochropowatości powierzchni.
Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.
We wprowadzeniu prof. S. Adamczak podkreśla, że „… Idea powstania niniejszej książki zrodziła się w wyniku mojej długoletniej – ponad 50-letniej działalności naukowej i współpracy z przemysłem głównie łożyskowym”. Jest to szczególna zaleta tej monografii, bowiem Autor zachował bardzo dobrą proporcję pomiędzy wiedzą teoretyczną, niezbędną do zrozumienia istoty pomiarów struktury powierzchni technologicznych a przykładami z praktyki przemysłowej. Wiedza zawarta w monografii obejmuje szerokie spektrum wiedzy od głównych pojęć dotyczących selekcji (rozdzielania) informacji dotyczących struktury geometrycznej, stosowanej terminologii i metod pomiaru, analizy i oceny uzyskanych wyników oraz charakterystyk szerokiej gamy stosowanych przyrządów pomiarowych. Opracowanie charakteryzuje się zwięzłością opisu, klarownym objaśnieniem zasad działania przyrządów i systemów pomiarowych oraz realizowanych strategii pomiarowych. Z pełnym przekonaniem polecam publikację prof. Stanisława Adamczaka „Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość” dla studentów kierunków inżynierskich - w szczególności dyscyplin inżynieria mechaniczna, inżynieria biomedyczna oraz inżynierów pracujących w przemyśle. Książka jest także godna polecenia słuchaczom studiów doktoranckich, bowiem zaprezentowane w niej metody i procedury analizy wyników pomiarów mają zastosowanie w różnych obszarach badań eksperymentalnych.
prof. dr hab. inż. Józef Gawlik,
Politechnika Krakowska
Tematyka recenzowanej książki obejmuje zagadnienia normalizacyjne, techniczne i metodologiczne związane z pomiarami i analizami metrologicznymi, mającymi na celu takie scharakteryzowanie SGP, które będzie skorelowane z procesami wytwarzania. Jest to tematyka szeroka, bardzo uniwersalna i przez to dosyć złożona, ale niezwykle aktualna. W recenzowanej książce problematyka dotycząca zagadnień metrologicznych, związanych z oceną SGP, potraktowana została w sposób systemowy i kompleksowy. Jednocześnie pokazano jej praktyczne zastosowanie na wielu konkretnych przykładach, zaczerpniętych między innymi z przemysłu łożysk tocznych. (…) Na polskim rynku wydawniczym są dostępne książki dotyczące metrologii warstwy wierzchniej i struktury geometrycznej powierzchni. Ich tematyka dotyczy głównie pomiarów chropowatości powierzchni, zaś zagadnienia pomiarów falistości i odchyłek kształtu powierzchni są w nich często traktowane marginalnie. Tematyka recenzowanej książki obejmuje natomiast problematykę pomiaru wszystkich elementów struktury geometrycznej powierzchni. Szczególne miejsce zajmują w niej praktyczne sposoby pomiaru odchyłek kształtu i falistości powierzchni stosowane w nowoczesnym przemyśle maszynowym. (…) Recenzowana książka jest wartościową oryginalną pracą, której poziom merytoryczny jest wysoki. Wśród publikacji książkowych o podobnej tematyce nie tylko polskich, ale także anglojęzycznych, książka prof. Stanisława Adamczaka wyróżnia się umiejętnym podejściem – z jednej strony naukowym, a drugiej strony bardzo praktycznym – do pomiarów i oceny powierzchni technologicznych. (…) Ważną cechą książki jest także to, że sytuuje ona tematykę GPS – geometrycznej specyfikacji wyrobów, a także pomiarów SGP, na tle postępujących zmian w zakresie normalizacji oraz postępu technicznego. Autor książki analizując poszczególne zagadnienia odwołuje się do norm, patentów, innowacyjnych prac wdrożeniowych i oryginalnych rozwiązań technicznych zrealizowanych w przemyśle.
dr hab. inż. Czesław Łukianowicz,
prof. Politechniki Koszalińskiej
Fragment książki(pdf)
str. 110
102 KB
Fragment książki(pdf)
str. 184
106 KB
Fragment książki(pdf)
str. 111
80 KB
Fragment książki(pdf)
str. 54
40 KB
Fragment książki(pdf)
str. 321-322
82 KB
Fragment książki(pdf)
str. 26-27
116 KB
Przeczytaj fragment
Fragment książki(pdf)
str. 110
102 KB
Fragment książki(pdf)
str. 184
106 KB
Fragment książki(pdf)
str. 111
80 KB
Fragment książki(pdf)
str. 54
40 KB
Fragment książki(pdf)
str. 321-322
82 KB
Fragment książki(pdf)
str. 26-27
116 KB
Zobacz więcej
Zobacz mniej