Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Przedstawiamy wyjątkową publikację – Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych czyli kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.
Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.
Misją autora Metrologii geometrycznej powierzchni technologicznych było przedstawienie najbardziej aktualnych treści dotyczących metrologii – dotyczy to w szczególności najnowszych dokumentów normalizacyjnych, najnowocześniejszych narzędzi dostępnych metrologom, a także wykorzystaniu udoskonalonej technologii czy oprogramowaniu.
W publikacji tej Czytelnik będzie mógł przeczytać m.in. o:
- skomputeryzowanych systemach pomiarowych,
- tolerancjach geometrycznych,
- zarysach walcowości, prostoliniowości, płaskości, kulistości
- ocenie falistości oraz mikro- i nanochropowatości powierzchni.
Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.
We wprowadzeniu prof. S. Adamczak podkreśla, że „… Idea powstania niniejszej książki zrodziła się w wyniku mojej długoletniej – ponad 50-letniej działalności naukowej i współpracy z przemysłem głównie łożyskowym”. Jest to szczególna zaleta tej monografii, bowiem Autor zachował bardzo dobrą proporcję pomiędzy wiedzą teoretyczną, niezbędną do zrozumienia istoty pomiarów struktury powierzchni technologicznych a przykładami z praktyki przemysłowej. Wiedza zawarta w monografii obejmuje szerokie spektrum wiedzy od głównych pojęć dotyczących selekcji (rozdzielania) informacji dotyczących struktury geometrycznej, stosowanej terminologii i metod pomiaru, analizy i oceny uzyskanych wyników oraz charakterystyk szerokiej gamy stosowanych przyrządów pomiarowych. Opracowanie charakteryzuje się zwięzłością opisu, klarownym objaśnieniem zasad działania przyrządów i systemów pomiarowych oraz realizowanych strategii pomiarowych. Z pełnym przekonaniem polecam publikację prof. Stanisława Adamczaka „Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość” dla studentów kierunków inżynierskich - w szczególności dyscyplin inżynieria mechaniczna, inżynieria biomedyczna oraz inżynierów pracujących w przemyśle. Książka jest także godna polecenia słuchaczom studiów doktoranckich, bowiem zaprezentowane w niej metody i procedury analizy wyników pomiarów mają zastosowanie w różnych obszarach badań eksperymentalnych.
prof. dr hab. inż. Józef Gawlik,
Politechnika Krakowska
Tematyka recenzowanej książki obejmuje zagadnienia normalizacyjne, techniczne i metodologiczne związane z pomiarami i analizami metrologicznymi, mającymi na celu takie scharakteryzowanie SGP, które będzie skorelowane z procesami wytwarzania. Jest to tematyka szeroka, bardzo uniwersalna i przez to dosyć złożona, ale niezwykle aktualna. W recenzowanej książce problematyka dotycząca zagadnień metrologicznych, związanych z oceną SGP, potraktowana została w sposób systemowy i kompleksowy. Jednocześnie pokazano jej praktyczne zastosowanie na wielu konkretnych przykładach, zaczerpniętych między innymi z przemysłu łożysk tocznych. (…) Na polskim rynku wydawniczym są dostępne książki dotyczące metrologii warstwy wierzchniej i struktury geometrycznej powierzchni. Ich tematyka dotyczy głównie pomiarów chropowatości powierzchni, zaś zagadnienia pomiarów falistości i odchyłek kształtu powierzchni są w nich często traktowane marginalnie. Tematyka recenzowanej książki obejmuje natomiast problematykę pomiaru wszystkich elementów struktury geometrycznej powierzchni. Szczególne miejsce zajmują w niej praktyczne sposoby pomiaru odchyłek kształtu i falistości powierzchni stosowane w nowoczesnym przemyśle maszynowym. (…) Recenzowana książka jest wartościową oryginalną pracą, której poziom merytoryczny jest wysoki. Wśród publikacji książkowych o podobnej tematyce nie tylko polskich, ale także anglojęzycznych, książka prof. Stanisława Adamczaka wyróżnia się umiejętnym podejściem – z jednej strony naukowym, a drugiej strony bardzo praktycznym – do pomiarów i oceny powierzchni technologicznych. (…) Ważną cechą książki jest także to, że sytuuje ona tematykę GPS – geometrycznej specyfikacji wyrobów, a także pomiarów SGP, na tle postępujących zmian w zakresie normalizacji oraz postępu technicznego. Autor książki analizując poszczególne zagadnienia odwołuje się do norm, patentów, innowacyjnych prac wdrożeniowych i oryginalnych rozwiązań technicznych zrealizowanych w przemyśle.
dr hab. inż. Czesław Łukianowicz,
prof. Politechniki Koszalińskiej
Fragment książki(pdf)
str. 111
80 KB
Fragment książki(pdf)
str. 54
40 KB
Fragment książki(pdf)
str. 110
102 KB
Fragment książki(pdf)
str. 26-27
116 KB
Fragment książki(pdf)
str. 184
106 KB
Fragment książki(pdf)
str. 321-322
82 KB
Przeczytaj fragment
Fragment książki(pdf)
str. 111
80 KB
Fragment książki(pdf)
str. 54
40 KB
Fragment książki(pdf)
str. 110
102 KB
Fragment książki(pdf)
str. 26-27
116 KB
Fragment książki(pdf)
str. 184
106 KB
Fragment książki(pdf)
str. 321-322
82 KB
Zobacz więcej
Zobacz mniej
