Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych

• Druk: Warszawa, 2023
• Autor: Stanisław Adamczak
• Wydawca: Wydawnictwo Naukowe PWN

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.

Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.

Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

• Kategorie:
  1. Ebooki i Audiobooki »
  2. Ebooki »
  3. Ebooki popularnonaukowe i specjalistyczne »
  4. Technika
• Język wydania: polski
• ISBN: 978-83-01-23339-6
• ISBN druku: 978-83-01-23296-2
• Liczba stron: 450

Od Autora     11
1. Informacje wprowadzające     15
	1.1. Wstęp     15
	1.2. Ogólne sposoby rozdzielania poszczególnych nierówności struktury geometrycznej powierzchni     18
		1.2.1. Sposób przybliżony     19
		1.2.2. Sposób mechaniczno-geometryczny     20
		1.2.3. Sposób wykorzystujący filtrację elektryczną     21
		1.2.4. Sposób z wykorzystaniem filtru odcinającego     24
		1.2.5. Sposób z wykorzystaniem analizy falkowej     26
	1.3. Tolerancje geometryczne     26
		1.3.1. Zarysy kształtu     27
		1.3.2. Zarysy odnoszące się do kierunku     32
		1.3.3. Zarysy odnoszące się do położenia elementu     36
		1.3.4. Zarysy odnoszące się do bicia     41
2. Zamknięte zarysy okrągłości i falistości powierzchni     46
	2.1. Podstawowa terminologia i definicje w ujęciu tradycyjnym     46
	2.2. Podstawowa terminologia i definicje w nowym ujęciu     48
	2.3. Metody oceny zarysu okrągłości     50
		2.3.1. Analiza harmoniczna     50
		2.3.2. Parametry oceny zarysów okrągłości     54
		2.3.3. Parametry zarysów okrągłości według najnowszych norm     61
	2.4. Metody pomiaru zmian promienia     65
		2.4.1. Błędy przyrządów pomiarowych     68
		2.4.2. Nadzór metrologiczny przyrządów     71
		2.4.3. Program komputerowy ROFORM     73
		2.4.4. Komputeryzacja przyrządów pomiarowych     78
		2.4.5. Przykłady wyników pomiarów okrągłości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej     81
	2.5. Odniesieniowe metody pomiaru zarysów okrągłości     83
		2.5.1. Zasada pomiaru w metodach odniesieniowych     83
		2.5.2. Rodzaje metod odniesieniowych     85
		2.5.3. Zalecane parametry metod odniesieniowych     91
		2.5.4. Transformacja zarysu zmierzonego na zarys rzeczywisty     97
		2.5.5. Komputeryzacja metod odniesieniowych     104
		2.5.6. Program komputerowy SAJD     106
		2.5.7. Sposoby realizacji metod     112
		2.5.8. Przybliżona metoda oceny odchyłki okrągłości     115
		2.5.9. Istota odwróconych odniesieniowych metod pomiaru     121
	2.6. Odniesieniowe metody pomiaru do oceny falistości powierzchni dla zarysów zamkniętych     128
3. Zarysy walcowości     134
	3.1. Pomiary zarysów walcowości ustalane metodą oceny zmian promieni     134
		3.1.1. Podstawowa terminologia i definicje     134
		3.1.2. Parametry oceny zarysów walcowości     137
		3.1.3. Dodatkowe parametry oceny zarysów walcowości     141
		3.1.4. Strategie pomiarowe     143
		3.1.5. Ocena zarysów walcowości – zasady prowadzenia pomiarów     154
		3.1.6. Eksperymentalna weryfikacja opracowanych strategii pomiarowych zarysów walcowości     159
		3.1.7. Komputeryzacja przyrządów pomiarowych     164
		3.1.8. Program komputerowy CYFORM     168
	3.2. Pomiary zarysów walcowości metodami odniesieniowymi     170
		3.2.1. Istota pomiarów zarysów walcowości     170
		3.2.2. Koncepcja odniesieniowych pomiarów zarysów walcowości     172
		3.2.3. Określenie zależności między zarysem zmierzonym a rzeczywistym     174
		3.2.4. Współrzędnościowe pomiary zarysów walcowości     181
4. Zarysy prostoliniowości     185
	4.1. Podstawowe określenia i definicje     185
	4.2. Parametry oceny zarysów prostoliniowości     187
	4.3. Filtrowanie zarysów prostoliniowości     189
	4.4. Technika pomiarów zarysów prostoliniowości     191
	4.5. Program komputerowy LIFORM     195
	4.6. Przykłady pomiarów zarysów prostoliniowości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej     196
5. Zarysy płaskości     198
	5.1. Podstawowa terminologia i definicje     198
	5.2. Parametry oceny zarysów płaskości     200
	5.3. Zasady prowadzenia pomiarów     201
	5.4. Strategie pomiarowe     202
	5.5. Przykłady pomiarów zarysów płaskości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej     206
6. Niedomknięte zarysy kształtu     210
7. Zarysy kulistości     221
	7.1. Podstawowa terminologia i definicje     221
	7.2. Parametry oceny zarysów kulistości     222
	7.3. Strategie pomiarowe     225
	7.4. Eksperymentalna weryfikacja opracowanej koncepcji pomiaru odchyłek kulistości strategią kombinowaną oparta na kontrolowanym obrocie     228
		7.4.1. Modelowe stanowisko badawcze do dokładnych pomiarów odchyłek kulistości     228
		7.4.2. Badania eksperymentalne     231
8. Ocena mikro- i nanochropowatości oraz falistości powierzchni     237
	8.1. Pomiary profilu     237
		8.1.1. Informacje podstawowe     237
		8.1.2. Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych     245
		8.1.3. Zasady i warunki prowadzenia pomiarów     250
		8.1.4. Wzorce kontrolne i użytkowe     258
		8.1.5. Komputeryzacja przyrządów do pomiaru falistości i chropowatości powierzchni     270
	8.2. Pomiary przestrzenne     277
		8.2.1. Informacje wstępne     277
		8.2.2. Parametry oceny powierzchni w układzie 3D     278
		8.2.3. Parametry związane z funkcyjnym przedstawieniem powierzchni w układzie 3D     282
		8.2.4. Wzorce przestrzennych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni     287
9. Kompleksowe profilometryczne pomiary niedomkniętych zarysów kształtu     299
	9.1. Istota kompleksowych pomiarów zarysów niedomkniętych     299
	9.2. Program komputerowy PROFORM     302
	9.3. Kompleksowa ocena zarysu     303
		9.3.1. Ocena profilu chropowatości powierzchni     303
		9.3.2. Ocena profilu falistości powierzchni     304
		9.3.3. Ocena zarysu kształtu     305
		9.3.4. Statystyczna analiza wyników pomiaru     306
	9.4. Przykładowe kompleksowe pomiary zaczerpnięte z praktyki przemysłowej     307
10. Statystyczne badania porównawcze przyrządów     309
	10.1. Eksperymentalny błąd pomiaru dla porównywanych przyrządów     309
	10.2. Statystyczne wyznaczenie błędu pomiaru odniesieniowych metod pomiarów zarysów okrągłości dla wybranych próbek z uwzględnieniem wartości odchyłki okrągłości     310
		10.2.1. Procedury estymacji i testu istotności dla wartości średniej eksperymentalnego błędu pomiaru     311
		10.2.2. Procedury estymacji i testu istotności dla wariancji i odchylenia średniego eksperymentalnego błędu pomiaru     312
		10.2.3. Oszacowanie przedziału ufności pojedynczego błędu pomiaru     313
		10.2.4. Ocena przykładowych wyników statystycznego testowania błędu pomiaru skomputeryzowanego odniesieniowego przyrządu pomiarowego z wzorcowym przyrządem Talyrond 73, którego działanie oparto na metodzie pomiaru zmian promienia     313
	10.3. Metoda statystycznego porównywania zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego     315
		10.3.1. Procedura estymacji punktowej współczynnika korelacji     317
		10.3.2. Przykładowa ocena wyników badań statystycznych porównywanych zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego     319
11. Przyrządy pomiarowe     321
	11.1. Informacje podstawowe dotyczące metrologii ogólnej     321
	11.2. Ogólne informacje dotyczące elementów budowy i charakterystyki narzędzi pomiarowych     322
		11.2.1. Klasyfikacja przyrządów pomiarowych do pomiarów profilu     327
		11.2.2. Definicje dotyczące analizowanych profili     329
		11.2.3. Elementy składowe przyrządów stykowych     330
		11.2.4. Charakterystyki metrologiczne przyrządów     333
		11.2.5. Przykładowe wartości nominalne niektórych charakterystyk przyrządu     334
	11.3. Metody przestrzennego pomiaru powierzchni     335
		11.3.1. Metody profilowania liniowego     337
		11.3.2. Metody topografii przestrzennej     340
		11.3.3. Eksperymentalne porównanie wybranych metod przestrzennego pomiaru chropowatości powierzchni     349
	11.4. Odniesieniowe przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości     355
		11.4.1. Przegląd niektórych rozwiązań odniesieniowych przyrządów pomiarowych     356
		11.4.2. Rozwiązania oryginalnych pryzm wykorzystywanych do pomiarów odniesieniowych zarysów okrągłości     372
		11.4.3. Przyrząd do uzyskiwania wzorców zarysów okrągłości     375
	11.5. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości metodą pomiaru zmian promienia (bezodniesieniowe)     377
		11.5.1. Rozwiązania konstrukcyjne stosowanych zespołów obrotowych wrzecion czujników pomiarowych     379
		11.5.2. Rozwiązania konstrukcyjne stołów obrotowych     382
		11.5.3. Przegląd przyrządów pomiarowych do oceny zarysów okrągłości     384
	11.6. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów walcowości     387
		11.6.1. Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym wrzecionem     389
		11.6.2. Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym stołem     392
		11.6.3. Przegląd przyrządów do pomiaru zarysu walcowości i innych błędów powierzchni     395
	11.7. Przyrządy stykowe do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni     402
		11.7.1. Profilometry     405
		11.7.2. Kształtografy     408
		11.7.3. Przyrządy profilometryczne do kompleksowych pomiarów     411
		11.7.4. Przyrządy optyczne     413
Posłowie     416
Literatura     420
Załącznik     433