Cyfrowe metody badania przetworników analogowo-cyfrowych

• Druk: 2010
• Autor: Anna Domańska
• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej

Książka dotyczy przetworników A/C typu Nyquista. Poruszono w niej zagadnienia związane z właściwościami przetworników, ich opisem i badaniem. Zarówno opis, jak i metody badania tych właściwości są uniwersalne – ich stosowalność nie zależy od zasady działania (struktury) przetworników. Przedstawiono cyfrowe metody badania przetworników A/C oparte na cyfrowym przetwarzaniu sygnałów. Książka nie dotyczy zagadnień związanych z technologią i działaniem poszczególnych typów tych przetworników. Przetworniki A/C są elementami powszechnie wykorzystywanymi w urządzeniach i systemach elektronicznych, profesjonalnych i nieprofesjonalnych, jednostkowego i powszechnego użytku. Urządzenia i systemy, w których stosowane są rozwiązania techniczne oparte na konwersji a-c, mają w większości przypadków przewagę nad urządzeniami i systemami opartymi na rozwiązaniach analogowych i dlatego stały się dominujące.

• Kategorie:
  1. Ebooki i Audiobooki »
  2. Ebooki »
  3. Ebooki popularnonaukowe i specjalistyczne »
  4. Technika
• Język wydania: polski
• ISBN: 978-83-7143-913-1
• ISBN druku: 978-83-7143-913-1
• Liczba stron: 86

Wykaz skrótów i oznaczeń 5
1. Wstęp 7
2. Podstawowe zagadnienia związane z uzyskiwaniem informacji o właściwościach przetworników A/C 10
3. Lokalizacja przetworników A/C w systemach z konwersją a-c  14
	3.1. Lokalizacja przetworników A/C w układach czujnikowych 14
	3.2. Lokalizacja przetworników A/C w systemach o funkcjach  definiowanych programowo 15
4. Charakterystyka we-wy przetwornika A/C 17
	4.1. Charakterystyka idealna 17
	4.2. Charakterystyka rzeczywista 21
		4.2.1. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy przetwornika A/C 21
		4.2.2. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy idealnego przetwornika A/C 21
		4.2.3. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy rzeczywistego przetwornika A/C z błędem przesunięcia lub wzmocnienia 21
		4.2.4. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy rzeczywistego przetwornika A/C z błędami przesunięcia, wzmocnienia i nieliniowości 23
5. Zasady badania przetworników A/C 30
	5.1. Zasady ogólne 30
	5.2. Sygnał testujący 30
		5.2.1. Sygnał stały 30
		5.2.2. Sygnały zmienne o równomiernym rozkładzie wartości 31
		5.2.3. Sygnał sinusoidalny 32
		5.2.4. Uwagi o stosowaniu zmiennych sygnałów testujących 34
	5.3. Struktura systemu do badania przetworników A/C 35
	5.4. Strategia próbkowania – próbkowanie koherentne i quasi-koherentne 37
	5.5. Jitter źródła sygnału wejściowego i sygnału zegarowego 39
	5.6. Ocena różnicy wartości parametru SNR przy niewystępowaniu i występowaniu jitteru. Dobór filtrów pasmowych 40
	5.7. Minimalna liczba próbek w próbkowaniu koherentnym i quasi-koherentnym 41
6. Metoda typu p badania przetworników A/C 46
7. Metoda typu t badania przetworników A/C 50
	7.1. Wprowadzenie 50
	7.2. Charakterystyka metody 50
	7.3. Algorytm dla modelu 3-parametowego 51
	7.4. Algorytm dla modelu 4-parametrowego 52
	7.5. Estymowane parametry 54
	7.6. Cechy metody dynamicznej typu t 55
8. Metoda typu f badania przetworników A/C 56
	8.1. Zasady ogólne 56
	8.2. Opis metody 56
	8.3. Interpretacja widma sygnału na wyjściu przetwornika A/C – skojarzenie elementów widma z rodzajami zniekształceń sygnału 57
	8.4. Estymowane parametry 58
	8.5. Interpretacja wyników DFT sygnału na wyjściu przetwornika A/C i ich zastosowanie do estymacji parametrów 62
	8.6. Związek rozmiaru FFT z rozróżnialnością elementów w widmie sygnału wyjściowego z przetwornika A/C 65
	8.7. Cechy metody dynamicznej typu f 67
9. Modyfikacja charakterystyki we-wy przetwornika A/C – kwantowanie z sygnałem ditherowym 69
	9.1. Zasada i cele konwersji a-c z sygnałem ditherowym 69
	9.2. Randomizacja i redukcja błędu kwantowania 72
	9.3. Efekt rozróżnialności wartości pośrednich i efekt likwidacji nieciągłości charakterystyki we-wy przetwornika A/C 75
	9.4. Równorzędność kwantowania z sygnałem ditherowym i nadpróbkowania oceniana na podstawie kryterium SNR 80
Literatura 83